||||| Réunion ЯÉCIPROCS : 8 - 12 septembre 2014 (Ambleteuse, Cote d'Opale) |
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Méthodes d'intégration des données de diffraction des rayons X
PrésentationsCrysAlisPro
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Mathias MEYER | (Agilent) | CrysAlisPro |
APEX2
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(Bruker AXS) | APEX2 |
EVAL15
CrystalClear
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Joseph FERRARA | (Rigaku) | CrystalClear |
XDS
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David FLOT | (ESRF, Grenoble) | XDS |
Poudres et détecteurs 2D
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Carmello PRESTIPINO | (ISCRennes) | Intégration des données de diffraction sur poudre |