||||| Réunion ЯÉCIPROCS : 8 - 12 septembre 2014 (Ambleteuse, Cote d'Opale) |
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Méthodes d'intégration des données de diffraction des rayons X
PrésentationsCrysAlisPro
Mathias MEYER | (Agilent) | CrysAlisPro |
APEX2
(Bruker AXS) | APEX2 |
EVAL15
CrystalClear
Joseph FERRARA | (Rigaku) | CrystalClear |
XDS
David FLOT | (ESRF, Grenoble) | XDS |
Poudres et détecteurs 2D
Carmello PRESTIPINO | (ISCRennes) | Intégration des données de diffraction sur poudre |