| ||||| Formation ЯÉCIPROCS : 18 - 19 novembre 2019, Nancy |
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"Diffraction sous conditions extrêmes ou atypiques (partie 2)"
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Cette formation s'adresse aux cristallographes structuralistes (chercheurs, enseignants-chercheurs, ITA, ...).
Étendre les compétences des participants sur le cœur de métier de cristallographe structuraliste.
Lundi 18 novembre
| 9h30 | - | 9h45 | Accueil | |
| 9h45 | - | 10h45 | Mise au point d'un dispositif de mesure de diffraction des rayons X sous champ électrique commuté, par Emmanuel Wenger (CRM2, Nancy) | |
| 10h45 | - | 11h45 | Photocristallographie de la milliseconde à l'état photostationnaire : instrumentation, analyse de données et modélisation structurale, par Sébastien Pillet (CRM2, Nancy) | |
| 11h45 | Pause déjeuner | |||
| 14h00 | - | 15h15 | Visite du laboratoire de l'Institut Jean Lamour (installation du centre de compétences XGamma) | |
| 15h15 | - | 15h30 | départ en TRAM pour le CRM2 | |
| 15h30 | - | 17h15 | Visite des dispositifs expérimentaux au CRM2 | |
| 17h30 | - | 18h30 | Réunion ЯÉCIPROCS |
Mardi 19 novembre
| 8h30 | - | 9h45 | XFEL et application en cristallographie, par Marion Harmand (IMPMC, Paris) | |
| 9h45 | - | 10h05 | Pause café | |
| 10h05 | - | 10h50 | Diffraction sur poudre en flux et pression de gaz dans des systèmes capillaires, de la température ambiante à 1000 °C, par Gaëtan Louarn (ISCR, Rennes) | |
| 10h50 | - | 11h35 | Comparaison avec les mesures effectuées avec des dispositifs XRK900, par Pascal Boulet (IJL, Nancy) | |
| 11h35 | Clôture |
