Pascal Boulet (IJL, Nancy)
Centre de compétences XGamma "Diffraction, Diffusion, Imagerie, fluorescence par rayons X et spectroscopie Mossbauer"

Marion Harmand (IMPMC, Paris)
XFEL et application en cristallographie

Gaëtan Louarn (ISCR, Rennes)
Diffraction sur poudre en flux et pression de gaz dans des systèmes capillaires, de la température ambiante à 1000 °C

Sébastien Pillet (CRM2, Nancy)
Photocristallographie de la microseconde à l'état stationnaire : instrumentation, analyse de données et modélisation structurale

Emmanuel Wenger (CRM2, Nancy)
Mise au point d'un dispositif de diffraction des rayons X sous champ électrique commuté