Le réseau ЯÉCIPROCS organise, conjointement avec le Réseau de Technologies des Hautes Pressions, du 9 au 13 octobre 2023, à La Rochelle, une action nationale de formation (ANF) intitulée :

Diffraction des rayons X et des neutrons sous haute pression : instrumentation et analyses de données

Nous proposons une formation transverse sur une thématique interdisciplinaire commune aux deux réseaux, en abordant dans un même lieu la méthodologie instrumentale et les outils d’analyse développés pour cette approche expérimentale, au contact d’experts dans le domaine, en laboratoire et sur les grands instruments.

Cette formation s’articule autour de plusieurs axes, des objectifs scientifiques aux traitements de données, en passant par les considérations instrumentales :

• Pourquoi étudier le comportement des objets et la structure de la matière sous haute pression ? Quelles informations obtient-on ?
• Les dispositifs pour créer des hautes pressions (presses, cellules à enclumes de diamants, etc.) et les spécificités de la diffraction sous haute pression.
• Les objectifs et les contraintes instrumentales liées à la mise en œuvre de dispositifs haute pression sur un diffractomètre (rayons X ou neutrons).
• Les applications de la diffraction sous haute pression sur des échantillons polycristallins ou des monocristaux dans le contexte d’études en biologie, sciences de la Terre, chimie moléculaire ou physique des matériaux.
• Les ressources et disponibilités des dispositifs haute pression pour la diffraction sur les grands instruments et dans les laboratoires.
• Les logiciels d’analyse pour répondre aux problématiques liées à ce type d’expériences.

  Contenu

Cette formation alternera entre présentations, ateliers sur la mise en œuvre des équipements, et démonstrations/travaux pratiques sur les logiciels de traitements de données pour transmettre les dernières évolutions technologiques et méthodologiques en instrumentation et analyse de données dans ce domaine.

Les participants à la formation sont invités à apporter avec eux un ordinateur portable pour les travaux pratiques.

Les participants qui le souhaitent peuvent également apporter un poster. Des sessions posters auront lieu pendant les pauses café.

  Public visé

L’ANF s’adresse à tous les scientifiques (C, EC, IT) géologues, physiciens, chimistes et biologistes impliqués dans le domaine de la cristallographie structurale et/ou le domaine des hautes pressions.

Des connaissances de base en cristallographie et diffraction seront souhaitables pour certains des points abordés. Savoir résoudre et/ou affiner des structures cristallines simples à partir de données de diffraction sur échantillons mono- et/ou poly-cristalllins sera également un avantage pour suivre certaines présentations.

Une partie de la formation sera réalisée en anglais.

  Intervenants

• Benoît BAPTISTE, IMPMC, Paris
  
  
• Romain CIURKO, Betsa, Nangis
  
  
• Sophie COMBET, LLB, Saclay
  
  
• Frédéric DATCHI, IMPMC, Paris
  
  
• Przemyslaw Dera, HIGP, Hawaii
  
  
• Pierre FERTEY, SOLEIL, Gif sur Yvette
  
  
• Éric GIRARD,IBS, Grenoble
  
  
• Juergen GRAF, Incoatec Bruker
  
  
• Céline GOUJON, Institut Néel, Grenoble
  
  
• Nicolas GUIGNOT, SOLEIL, Gif sur Yvette
  
  
• Thomas HANSEN, ILL, Grenoble
  
  
• Jeroen JACOBS, ESRF, Grenoble
  
  
• Stefan KLOTZ, IMPMC, Paris
  
  
• Mathias MEYER, Rigaku
  
  
• Mohamed MEZOUAR, EBS-ESRF, Grenoble
  
  
• Thomas PIPPINGER, STOE
  
  
• Christophe THESSIEU, Almax Easylab
  
  
• Laure VENDIER, LCC, Toulouse

Avec le soutien de :