CDIFX  Contact

Formation

• 2004: D.E.A. Procédés Céramiques et Traitements de Surface, Université de Limoges (Sciences des Procédés Céramiques et Traitements de Surface UMR 6638)
  
  
• 2008: Doctorat en Matériaux Céramiques et Traitements de Surface, Université de Limoges (Sciences des Procédés Céramiques et Traitements de Surface) (SPCTS UMR7315)
  "Etude de la relation entre structure et propriétés des pérovskites pseudo-cubiques du système Na_0.5Bi_0.5TiO₃" sous la direction de Gilles Trolliard et Pascal Marchet
  
  
• 2009: Stage post-doctoral
  ENSICaen Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux (CRISMAT UMR 6508)
  "Precession Electron Diffraction as a tool for crystal structure determination"
  dans le cadre de l'ANR SONDE (Structure d'Objet Nanométrique par Diffraction des Electrons) (ANR-06-BLAN-0331) sous la direction de Philippe Boullay

Activités de Recherche

• 2009: Ingénieur de recherche CNRS à l'Unité des Sciences Chimiques de Rennes (ISCR UMR 6226)
  
  En Charge de l'analyse structurales de monocristaux par diffraction des rayons au CDIFX avec Thierry Roisnel
  En Charge des études par microscopie électronique en transmission de la plateforme THEMIS avec Valérie Demange
  

Compétences

• Elaboration de céramiques oxyde (mise en forme, frittage) - Principalement d'oxydes par voie solide.
  
  
• Diffraction des rayons X
  • Appareils : 4 cercles (D8Venture, APEX II, Kappa CCD)
  • Mesure des paramètres de maille
  • Affinement structural (JANA2006, SHELX)
  • Méthodes directes (SIR, SUPERFLIP, SHELXS)
  
  
  
• Cristallochimie :
  • Analyse de la symétrie cristalline, cristallographie et détermination de groupe d'espace
  • Environnement locaux, coordinence et liaisons chimiques
  • Transitions de phases
  • Mesure des paramètres de maille
  • Affinement de type Rietveld (logiciel JANA2006, SHELX)
  • Méthodes Directes (SIR2008)
  
  
  
• Microscopie Electronique en Transmission:
  • Appareil : JEOL 2010, FEI Tecnai G²30, JEOL 2100
  • Diffraction des électrons en faisceau parallèle
  • Diffraction des électrons en faisceau convergent (CBED, LACBED)
  • Imagerie conventionnelle et haute résolution
  • Précession électronique (détermination structurale)
  • STEM HAADF
  • EDS (Cartographie)
  • Logiciels utilisés : JEMS, ImageJ, DGM, CaRIne v3.1, Crisp 2, Electron Diffraction, Aztec
  
  
  
• Propriétés électriques.
  • Mesures de permittivité (spectrométrie d'impédance) : HP 4194A
  • Mesures des constantes piézoélectriques. Piezotest
  • Mesures pyroélectriques et de polarisation. (instr. Labo)
  
  
  
• Informatique :
  • langages : C, Java, HTML, CSS

Publications

• Publications importantes
  • "Stability of NdBaCo_2-xMn_xO_5+d (x=0, 0.5) layered perovskites under humid conditions investigated by high-temperature in situ neutron powder diffraction."
    M. Bahout, SS. Pramana, JM. Hanlon, V. Dorcet, RI. Smith, S. Paofai, SJ. Skinner.
    Journal of Materials Chemistry A, 3, 2015, p.15420-15431.
    
    
  • "Nanorods of Potassium Tantalum Niobate Tetragonal Tungsten Bronze Phase Grown by Pulsed Laser Deposition"
    Simon, Q. ; Dorcet, V. ; Boullay, P. ; Demange, V. ; Deputier, S. ; Bouquet, V. ; Guilloux-Viry, M.
    Chem. Mat., 25, 2013, p.2793.
    
    
  • "EXTRAX : an ImageJ plug-in for electron diffraction intensity extraction."
    V. Dorcet, X. Larose, C. Fermin, M. Bissey and P. Boullay.
    J. Appl. Cryst., 43, 2010, p.191-195.
    
    
  • "TEM structural and microstructural investigation of a Ca₂Co₂O₅ metastable brownmillerite thin film."
    P. Boullay, V. Dorcet, C. Grygiel, O. Perez,W. Prellier, B. Mercey and M. Hervieu.
    Phys. Rev. B, 79, 2009, 184108.
    
    
  • "Properties of the solid solution (1-x)Na_0.5Bi_0.5TiO₃ - (x)BiFeO₃."
    V. Dorcet, P. Marchet, O. Peña and G. Trolliard.
    J. Magn. Magn. Mat, 321, 2009, p.1762-1766.
    
    
  • "Reinvestigation of phase transitions in Na_0.5Bi_0.5TiO₃ by TEM. Part I: first order rhombohedral to orthorhombic phase transition."
    V. Dorcet, G. Trolliard and P. Boullay.
    Chem. Mat., 20, 2008, p.5061-5073.
    
    
  • "Reinvestigation of phase transitions in Na_0.5Bi_0.5TiO₃ by TEM. Part II: second order orthorhombic to tetragonal phase transition."
    V. Dorcet and G. Trolliard.
    Chem. Mat., 20, 2008, p.5074-5082.
    
    
  • "A Transmission Electron Microscopy study of the A-site disordered perovskite Na_0.5Bi_0.5TiO₃."
    V. Dorcet and G. Trolliard.
    Acta Mat., 56, 2008, p.1753-1761.